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除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導電材料上的非導電層涂層的厚度（如非鐵金屬上的漆層） ，測量范圍到1200 μ m的標準探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm，我們同時還提供完整的配件。 為固定測試有特別的設計， PC-leptoskop 2050是一個**的膜層測厚儀。
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